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              2023年湖南科技大學專升本材料科學與工程專業(yè)《材料分析與測試技術(shù)》考試大綱

              2023-04-04
              來源:好老師升學幫
              閱讀 886
              導讀:導讀:本篇資訊向正在備考湖南專升本的考試分享2023年湖南科技大學專升本材料科學與工程專業(yè)《材料分析與測試技術(shù)》考試大綱信息,以供大家參考!

              材料分析與測試技術(shù)》是2023年湖南科技大學專升本材料科學與工程專業(yè)考試科目之一,考試時長 120分鐘,滿分100分,考試題型:單項選擇題、填空題、簡答題、計算題。2023年湖南科技大學專升本材料科學與工程專業(yè)《材料分析與測試技術(shù)》考試大綱已經(jīng)公布,考試大綱明確了考試內(nèi)容,考試題型,考試要求等。需要考試該科目的同學一定要研究考試大綱,院校會根據(jù)考試大綱進行出題,具體考試大綱內(nèi)容請參考下方。

              2023年湖南科技大學專升本《材料分析與測試技術(shù)》考試大綱

              一、考試的目的與要求

              通過材料分析與測試技術(shù)的學習,考察其對X射線衍射分析技術(shù)、透射電子顯微分析技術(shù)、掃描電子顯微分析技術(shù)、電子探針顯微分析技術(shù)的掌握程度;著重觀察其對各種分析技術(shù)基本原理及儀器設(shè)備結(jié)構(gòu)的熟練程度,使學生具備常用的材料微觀結(jié)構(gòu)分析技術(shù)的所必須的基本理論及方法,具備一定的分析問題的能力和實驗能力。

              1.掌握X射線衍射分析、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析、電子探針顯微分析的基本理論;

              2.掌握各種分析測試技術(shù)儀器的基本結(jié)構(gòu)及工作原理;

              3.掌握常用分析測試技術(shù)對試樣的要求及試樣的制備方法;

              4.具備根據(jù)材料的性質(zhì)等信息確定分析手段的初步能力;

              5.具備對檢測結(jié)果進行標定和分析解釋的初步能力。

              二、考試知識點及要求

              (一)X射線衍射分析(35%左右)

              1.考試知識點

              X射線的物理學基礎(chǔ)、X射線衍射方向、X射線衍射強度、多晶體分析方法、物相分析。

              2.考試要求

              (1)識記:X射線的本質(zhì);連續(xù)X射線譜和特征X射線譜的概念及產(chǎn)生機理;X射線與物質(zhì)的相互作用;布拉格方程的形式及各參數(shù)的意義;干涉面、干涉指數(shù)的概念;晶面指數(shù)與干涉指數(shù)的關(guān)系;倒易點陣的性質(zhì);簡單點陣、體心點陣、面心點陣三種點陣的消光規(guī)律;X射線物相分析中定性分析的基本原理及基本步驟。

              (2)理解:布拉格方程的推導及應(yīng)用;結(jié)構(gòu)因數(shù)的物理意義及計算;晶體衍射花樣的特點;X射線衍射儀法;定量分析的原理及分析方法。

              (3)應(yīng)用:利用布拉格方程求晶面的衍射角;立方點陣結(jié)構(gòu)因數(shù)的計算;K值法進行定量分析。

              (二)透射電子顯微分析(30%左右)

              1.考試知識點

              電子光學基礎(chǔ)、透射電子顯微鏡、電子衍射、晶體薄膜衍襯成像分析。

              2.考試要求

              (1)識記:電磁透鏡像差及產(chǎn)生的原因;電磁透鏡分辨率的影響因素;電磁透鏡的景深和焦長的概念;電磁透鏡的景深大、焦長長的原因;透射電子顯微鏡的主要組成部分及作用;透鏡中主要光闌的位置及作用;電子衍射與X射線衍射的異同;電子衍射的基本公式;電子衍襯成像的概念;薄膜試樣的制備步驟;明場像、暗場像、中心暗場像的概念及成像時電子束及物鏡光闌的位置。

              (2)理解:透射電鏡的成像原理倒易點陣;愛瓦爾德圖解;晶帶定理;單晶電子衍射花樣的標定方法。

              (3)應(yīng)用:利用嘗試校核法對已知晶體結(jié)構(gòu)衍射花樣進行標定。

              (三)掃描電子顯微分析技術(shù)(20%左右)

              1.考試知識點

              電子束與固體樣品的相互作用、掃描電子顯微鏡的構(gòu)造和工作原理、掃描電子顯微鏡的主要功能、表面形貌襯度原理及應(yīng)用、原子系數(shù)襯度原理及應(yīng)用。

              2.考試要求

              (1)識記:二次電子、被散射電子、特征X射線、俄歇電子的概念及特點;掃描電鏡的工作原理;掃描電鏡光學系統(tǒng)的結(jié)構(gòu);掃描電鏡的主要性能指標;二次電子信號的特點;背散射電子信號的特點;影響掃描電鏡分辨率的因素。

              (2)理解:二次電子形貌襯度像的原理及應(yīng)用、背散射電子襯度像的原理及應(yīng)用。

              (3)應(yīng)用:根據(jù)樣品需要選擇合適的信號進行微觀結(jié)構(gòu)分析。

              (四)電子探針顯微分析(15%左右)

              1.考試知識點

              電子探針的結(jié)構(gòu)與工作原理、電子探針的分析方法及應(yīng)用。

              2.考試要求

              (1)識記:電子探針的工作原理、電子探針的三種工作方式。

              (2)理解:波譜儀及能譜儀的工作原理和優(yōu)缺點、電子探針的分析方法。

              (3)應(yīng)用:根據(jù)樣品需要選擇波譜分析還是能譜分析。

              三、試卷結(jié)構(gòu)及主要題型

              (一)試卷結(jié)構(gòu)

              基本題70%左右,綜合題20%左右,提高題10%左右。

              (二)主要題型

              主要題型有四大題型,可根據(jù)具體情況作調(diào)整,單項選擇題30%左右,填空題25%左右,簡答題30%左右,計算題15%左右。

              四、考試方式

              采用閉卷考試形式,出一套試題,并附標準答案。

              五、試題數(shù)量及時間安排

              試卷應(yīng)涵蓋教學大綱規(guī)定內(nèi)容的90%以上,考試時間120分鐘。

              六、使用教材及主要參考書

              (一)使用教材

              《材料分析方法》(第3版),周玉主編,機械工業(yè)出版社。

              (二)主要參考書

              《材料近代分析測試方法》(修訂版),常鐵軍、劉喜軍主編,哈爾濱工業(yè)大學出版社。

              本文資料來源:https://www.hnust.edu.cn/sylm/ggtz/4ace605719ef4eec96ed68c41a9c4842.htm

              研究考試大綱,對大綱中的考點及相關(guān)要求進行認真研究,是應(yīng)考的關(guān)鍵。正在備考專升本的同學,關(guān)注湖南好老師升學幫網(wǎng)站可以了解更多專升本的考試信息。如果在學習上有困難,自制力差,可以在下方留下你的聯(lián)系方式,我們的老師會針對你的學習情況給出建議。

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